原子力顯微鏡在聚合物凝聚態(tài)中的運用
點擊次數(shù)：1515 更新時間：2021-09-26
科研人員用原子力顯微鏡（AFM）對自制的聚丙烯酸納復合超濾膜和基膜PES超濾膜表面進行了觀測,得到的表面三維立體圖真實反映了膜表面的整體形貌。通過AFM考查了乙酸纖維素RO膜及芳香聚酰胺復合RO膜的凝膠污染情況,發(fā)現(xiàn)復合膜的污染速率比CA膜快得多,這歸因于界面聚合時形成的粗糙表面。復合膜的AFM像中具有較多的山峰狀結(jié)構(gòu),而CA膜的表面就相對光滑得多。
進一步了解探針尖與樣品表面的相互作用力及控制它們的方式后,AFM在高分子材料領(lǐng)域的應(yīng)用不再局限于高分辨率的表面圖像。對非均相高分子體系(如嵌段共聚物和高分子共混)進行表面研究時,因各組分的機械性能不同,提高探針-樣品力可得到這些材料的組分圖。另外,在研究表層類似橡膠的高分子材料時,AFM可以穿透這一層,并觀測到不同深度的高分子排列。這表明AFM不再僅僅是一個表面技術(shù)。
AFM提供了觀察高分子結(jié)晶形態(tài),包括片晶表面分子鏈折疊作用的有效手段。在較早的研究中,科研人員將含聚氧乙烯(PEO)晶體的溶液滴在載玻片上,在室溫、空氣環(huán)境下使溶劑揮發(fā),然后用光學顯微鏡確定PEO結(jié)晶在載體上的位置,再由AFM觀察其晶體結(jié)構(gòu)。由AFM圖象可確定PEO片晶表面幾何形狀接近正方形,厚度約為(12.5±0.5)nm。晶片在空氣中隨時間延長而逐漸被破壞,AFM圖象可記錄晶片在破壞時形成的不規(guī)則的樹枝狀結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)間的縫隙深度較PEO晶體厚度大,說明在這個過程中高分子鏈進行了重新折疊。大約1h后,結(jié)晶結(jié)構(gòu)消失。
